Буферите, известни също като логически буфери, са полупроводникови ИС (интегрални схеми), които са изградени от два инвертора, които са гръб един до друг, като осигуряват основен логически елемент, който предава своя вход, непроменен, към своя изход. Буферните ИС се предлагат и в инвертиращи и неинвертиращи варианти.

Как работят буферите?

Основната цел на буферната ИС е да регенерира входа, главно чрез използване на силни ниски и високи стойности, както и да регенерира слаб изход от невъзстановяваща се логика. Те се използват също така за увеличаване на забавянето на разпространението на веригите чрез задвижване на големия капацитивен товар.

Буферите също така разполагат с трансивъри и драйвери, които се използват за регенериране на входа, използвайки силно високо и силно ниско ниво. Буферните врати служат като усилвател на слаб източник на сигнал, който не може да източни много ток, докато увеличава токовия капацитет на сигнала, така че да може да задвижва натоварване.

Видове буфери

Предлагат се буфери с различни конфигурации, като например вариации на броя на наличните канали, поддържащи различни входове и изходи като CMOS, DTL (диодно-транзисторна логика) и с единичен край и осигуряващи поддръжка за набор от логически семейства като HC, HEF и TTL. Буферите се предлагат и в комбинация с конвертор.

Друг вид буфер, който се предлага, са буферите за шини. Буфер за шина е ИС, който свързва няколко източника на данни към една шина. Отворените драйвери могат да бъдат избрани да са с логически висок, логически нисък или висок импеданс, което позволява на други буфери да управляват шината. Подобно на буферите, налични са варианти на буферите на шините, като поддръжка за различни логически семейства, входове, изходи, както и броя на пинове, конфигурирани на ИС.

Буферите за шини се използват в приложения като телевизионно и видео оборудване, промишлени контроли и преносимо оборудване.

Приложения

Буферите имат широк спектър от приложения като:

Автоматично тестово оборудване
Системи за тестване на платки
Оборудване за инструментация и характеризиране
Системи за изпитване на полупроводници